Übersicht der vorhandenen Dokumente als Datein:
1966: 1966 (1., keine
Vortrags-Skripte)
1967: 1967 (2., keine
Vortrags-Skripte)
1969: 1969 (3., keine
Vortrags-Skripte)
1971: 1971 (4., keine
Vortrags-Skripte)
1973: 1973 (5.)
1977: 1977 (8.
???)
1982: Band 1
(II.), Band 2 (keine Vortrags-Skripte)
1983: Band 1, Band 2, Band 3 (10.)
1984: 1984
1985: Band 1, Band 2, Band 3 (11.)
1987: Band 1, Band 2, Band 3, Band 4, Band 5 (12.)
1989: Band 1, Band 2, Band 3, Band 4, Band 5, Band 6, Band 7 (13.)
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Inhaltsverzeichnisse
1967 (2.) |
Dipl.-Phys. Bödelt (KdT, HFO) | Begrüßung und Eröffnung | |
Prof. Dr. Falter (ZLA) | Stand und Perspektive der Anwendung von Halbleiter-Bauelementen | ||
Prof. Dr. Heinze (TH Ilmenau) | Die Bedeutung der statistischen Qualitätsüberwachung in der Halbleitertechnik | ||
Dr. Auth (HFO, Wiss. Direktor, Mitglied des Forschungsrates) |
Stand und Perspektive physikalisch-technologischer Erkenntnisse bei der Herstellung von Halbleiter-Bauelementen | ||
Dipl.-Phys. Pohl (HFO) | Entwicklung von Halbleiter-Bauelementen - ökonomisch betrachtet | ||
Prof. Dr. Paul (TH KMSt) | Erkenntnisstand, physikalische Grenzen und Realisierungsmöglichkeiten des bipolaren Transistors | ||
Dipl.-Ing. Krüger (HFO) | Eigenschaften von Transistoren der Typenreihe SF126 bis SF128 | ||
Dipl.-Ing. Dornfeld (HFO) | Anwendung von Transistoren der Typenreihe SF126 bis SF128 | ||
Dipl.-Ing. Leetz (HFO) | Eigenschaften von Transistoren der Typenreihe SF136 bis SF137 | ||
Dipl.-Ing. Jüngling (HFO) | Anwendung von Transistoren der Typenreihe SF136 bis SF137 | ||
Dipl.-Ing. Thiele (HFO) | Beurteilung des HF-Verhaltens von Transistoren der Type GF145 bei 800MHz | ||
Dipl.-Ing. Kender (IfR) | Einsatz von Transistoren in Regel- und Steuereinrichtungen des Systems "Ursamat" | ||
??? (FWE) | Forderungen an Transistoren für den Einsatz in digitalen Messgeräten | ||
Dipl.-Phys. Obernick (WFB), Dipl.-Ing. Galow |
Epitaxie-Planar-Diffusionsdioden - neue WF-Bauelemente für die
Elektronik - Technologie und Zuverlässigkeit - Technische Parameter und Applikation |
||
Prof. Dr. Lappe (TU Dresden) | Die Umgestaltung der Starkstromtechnik durch die Leistungselektronik | ||
Ing. Schlegel (HFO) | Dynamisches Verhalten von Si-Gleichrichterdioden | ||
Ing. Höringer (HFO) | Die Si-Gleichrichterdioden der Typenreihe SY200 bis SY230 | ||
Dipl.-Ing. Hoffmann (VEB Fahrzeugelektrik KMSt) |
Drehstromlichtmaschine mit eingebauten Si-Gleichrichterdioden | ||
Ing. Kindl (VEB Fahrzeugelektrik KMSt) |
Reglerschalter für Kraftfahrzeuge mit Regeldiode | ||
Dipl.-Ing. Menshausen (VEB Walzwerk Ilsenburg) |
Betriebserfahrungen mit Si-Gleichrichteranlagen für Cu-Elektrolyse sowie Magnetkranbetrieb | ||
Ing. Österreich (VEB Fahrzeugelektrik KMSt) |
Elektronische Zündungen in Kraftfahrzeugen | ||
Dr.-Ing. Nopirakowski (Elpro) | Wechselrichter mit Thyristoren | ||
Dipl.-Ing. Uhlenhut (Elpro) | Thyristorgleichrichter mit Regeleinrichtung für Antrieb kleiner Leistung | ||
Dipl.-Ing. Stahn (Elpro) | Überstromschutz von Thyristorstromrichtern zur Speisung von Gleichstrommaschinen | ||
Dipl.-Ing. Mattje (VEB Elektrowärme Sörnewitz) |
Anwendung von Halbleiter-Gleichrichterdioden und Thyristoren in Geräten und Anlagen des VEB EWS | ||
Dipl.-Ing. Knopke (HFO) | Ein Beitrag zur Leistungsverstärkung bei HF-Transistoren | ||
??? (Zentrallaboratorium für Fernmeldetechnik Berlin | Halbleiter-Bauelemente in der Fernsprechvermittlungstechnik | ||
Dipl.-Ing. Gränitz (VEB Elektronik KMSt) |
Die Störempfindlichkeit logischer Transistorbaustufen | ||
Dipl.-Ing. Bemmann (VEB Elektronik KMSt) |
Einfluß der Zuverlässigkeit und der Preise von Halbleiter-Bauelementen auf die Konzeption einer Baureihe | ||
Dipl.-Ing. Fischer (VEB Elektronik KMSt) |
Einfluß der Zuverlässigkeit und der technischen Parameter von Halbleitern auf die Konzipierung der Preisgestaltung von EDVA | ||
Dipl.-Ing. Wuschansky (HFO) | Untersuchungen zum 2.Durchbruch von Ge-Kleinleistungstransistoren | ||
Dipl.-Ing. Safar (CKD Prag) | Leistungshalbleiter-Bauelemente der CKD und deren Verwendung | ||
Dipl.-Ing. Ekart (CKD Prag) | Einige ausgewählte Messmethoden für Bauelemente der Leistungselektronik | ||
Dipl.-Ing. Rehak (CKD Prag) | Anwendung von Halbleiter-Leistungs-Bauelementen der CKD | ||
Dipl.-Ing. Kamenicky (CKD Prag) | kontaktfreie Schalteri der Starkstromelektrotechnik | ||
Dipl.-Ing. Krug (TU Dresden) | Stromrichter-Synchronmotor mit ankerstromabhängiger Erregung - ein kommutatorloser Bahnantrieb mit hoher Überlastbarkeit | ||
Dipl.-Ing Seidel (TU Dresden) | Erregung elektrischer Maschinen - insbesondere von Synchronmaschinen mit Hilfe von Halbleiter-Bauelementen |
1969 (3.) |
Dipl.-Ing. Krüger (HFO) | Experimentelle Untersuchungen zum Schaltverhalten von MOS-Transistoren | |
Dipl.-Ing. N. Schiller (HFO) | Gewinnung von Zuverlässigkeitsangaben bei Si-Transistoren | ||
Prof. Dr. M. Falter | Neue Entwicklungsrichtungen in der Halbleitertechnik | ||
Dipl.-Ing. U. Zauner (VEB El. Rechenmaschinen KMSt) |
Entwicklungstendenzen logischer Baugruppen in der EDV | ||
Dipl.-Ing. Rolf Dernoscheck (VEB El. Rechenmaschinen KMSt) |
Appl. Untersuchungen der Baureihe D2 | ||
Dipl.-Ing. H. Thiele (HFO) | Anwendung der S-Parameter in der Transistor-Schaltungstechnik | ||
Dipl.-Ing. Ingeborg Groß (FSGW) | Einsatz und Anwendung von Halbleiter-Bauelementen in der Fernsehempfangstechnik | ||
Ing. H. Schmidt (GWS) | Mitteilung über die Entwicklung einer neuen Kühlkörper-Reihe | ||
Dipl.-Ing. Hermann Balzer (WTZ Elektroapperate Dresden) |
Selbststeuerung von Thyristor-Antiparallelschaltungen | ||
Dr.-Ing. Ansgar Knapke (TH Ilmenau) |
Mehrphasiger zwangskommutierter Wechselrichter mit Gegentaktlöschung | ||
Ing. Hans-Jürgen Liedtke (EAW) Ing. Stefan Scheublein |
Belüftung von Si-Gleichrichterblöcken | ||
Dipl.-Ing. Johannes Ludwig (HFO) | Zuverlässigkeits-Untersuchungen an Halbleiter-Bauelementen mit hoher zulässiger Verlustleistung | ||
Dipl.-Ing. Hans Albrecht (WTZ Elektroapparate Dresden) |
Drehzahlsteller von Schleifringmotoren durch Pulsung der Läuferkreiswiderstände mit Thyristoren | ||
Dr.-Ing. Chr. Mauersberger (TU Ilmenau) |
Unmittelbare Frequenzumformung mit direkter Kupplung zur Speisung von Elektroantrieben | ||
Dipl.-Ing. G. Sittnik (Elpro Berlin) | Betriebserfahrungen mit Si-Gleichrichtern auf elektrischen Triebfahrzeugen u. Schlußfolgerungen für die weitere Verwendung | ||
Dipl.-Ing. P. Büchner (TUD) | Strombeanspruchung der Halbleiterventile selbstgeführter Wechselrichter bei Schaltvorgängen | ||
Dr.-Ing. Heinz Wolf (WTZ Elektroapparate Dresden) |
Bausteinreihe für Thyristor-Wechselstromschalter | ||
Ing. Brigitte Engel (GWS) | Gleichrichter-Sätze mit 10A-Si-Gleichrichterdioden | ||
Dipl.-Ing. D. Kling (HFO) | Thermische Kennwerte von Si-Transistoren | ||
Dipl.-Ing. R. Wuschansky (HFO) | Angaben zum Mitlaufeffekt von Transistoren | ||
Dipl.-Ing. Peter Baumann (HFO) Dipl.-Ing. Gerd Schwotzer |
Zur Beurteilung des HF-Verhaltens von Transistoren | ||
Ing. Stefan Scheuplein (EAW) Ing. Hans-Jürgen Liedtke |
Si-Gleichrichterblöcke für Industrieanwendung | ||
Dipl.-Ing. Peter Stadt (WFB) | Varakterdioden als Frequenzvervielfacher im GHz-Bereich | ||
Ing. Rudi Knospe (EAW) Ing. Herbert Preiß |
Betriebserfahrungen mit Luft- u. Wasser gekühleten Si-Gleichrichterblöcken | ||
Dipl.-Ing. Hans-Joachim Blobelt (LEW) | Synchroner Bahnmotor mit Umrichterspeisung |
1971 (4.) |
Dipl.-Ing. Reimann (RWN) | Möglichkeiten der Holografie zur Strukturübertragung in der Halbleitertechnik | |
Ing. Reiner Schlegel (GWS) | Der Schutz des Thyristors durch überflinke Sicherungen | ||
Dipl.-Phys. H. Beichler (GWS) | Der HFO-Thyristor ST121 | ||
Dipl.-Ing. M. Schulze (TU Ilmenau) |
Steuergerät mit großer Impulssteilheit zur Zündung parallel und in Reihe geschalteter Thyristoren | ||
Ing. Lieban (HFO) | Einheits-Gehäusebaureihe für Halbleiter-Bauelemente der Leistungselektronik | ||
Dipl.-Ing. Klaus Oemisch (WTZ Elektroapparate Dresden) |
Thyristor-Drehstromschalter für Industrieöfen | ||
Dipl.-Ing. Geißler (WTZ Elektroapparate Dresden) |
Überstromschutz von Thyristor-Bausteinen in Antiparallelschaltung für 2A bis 16A | ||
Dipl.-Ing. Norbert Schiller (HFO) | Die Stellung der forcierten Prüfung im Gesamtsystem der Zuverlässigkeits-Untersuchungen | ||
Dipl.-Ing. Peter Näser (HFO) | Meßmöglichkeiten für S-Parameter | ||
Dipl.-Ing. Zimmermann (HFO) | Ergebnisse von Zuverlässigkeitsuntersuchungen an Plasttransistoren | ||
Ing. Helmut Hoffmann (HFO) | Kenndatenuntersuchungen zum Videotransistor SF150 | ||
Dipl.-Ing. Thiele (HFO) | Dimensionierung von Verstärkern bei höchsten Frequenzen mit S-Parametern | ||
Dipl.-Phys. Joachim Kühn (GWS) | Leistungsgrenzen des Si-Thyristors |
1973 (5.) |
Dr.-Ing. H. Seidel (KEAB) Dipl.-Ing. D. Kloock |
Reaktionsschnelle Antriebe mit Gleichstrom-Reversierstellern | |
Dipl.-Phys. Karl-Heinz Haberlandt (HFO) | Probleme der Anwendung digitaler Schaltkreise | ||
Dipl.-Ing. Norbert Schiller (HFO) | Ausfallursachen bei npn-Transistoren | ||
Dr. rer. nat. Ulrich Mohr (GWS) | Avalanche-Effekt in BE der LE | ||
Dipl.-Ing. Werner Woithe (INT) | Basis- und ZF-Baugruppen in integrierter Technik | ||
Dipl.-Ing. Ulrich Zschaler (GWS) | Bestimmung virtueller Sperrschichttemperatur | ||
- ohne - | Datenblätter D100C bis D172C, SS222 | ||
Dipl.-Ing. Hartmut Hertzer (HFO) | Digitale Schaltkreisreihe HFO | ||
Dr.-Ing. Manfred Kronberg (TH KMSt) |
Dünnschicht-Hybridtechnik in Ansteuergeräten der Leistungselektronik | ||
Dr.-Ing. habil A. Möschwitzer Forschungsstudent L. Pasch (TUD) |
Eigenschaften von MNOS-Feldeffekttransistoren für integrierte Halbleiterspeicher | ||
Dipl.-Phys. Wolf-Dieter Rentsch Dipl.-Ing. Horst Franke (WFB) |
Entwicklung 1A-3A-Thyristoren im WFB (incl. Technologie) | ||
Ing. H.J. Götting (Inst. M.v.Ardenne) |
Halbleiter-Bauelemente in der biomedizinischen Elektronik | ||
(Dr. rer. nat. Dieter Garte) ??? | Appl. von Höchstfrequenztransistoren - Vortragsbilder (ohne Text) | ||
Prof. Dr.-Ing. habil. Werner Mansfeld (INT Radeberg) | Höchstfrequenz-Transistorverstärker in Richtfunkgeräten | ||
Dipl.-Phys. K.-D. Rojewski Dipl.-Ing. R. Wetzel (Robotron) |
ICs - Gestaltung elektronischer Systeme | ||
Ing. Günter Maasch (HFO) | Kennwerte D100-Reihe | ||
Dipl.-Ing. Karl Pohl (EAW) | Kühlprobleme an Halbleiterstromrichterblöcken | ||
Dipl.-Ing. Dieter Fuchs (RWN) | Moderne Bauelemente für die UHF-Technik (incl. Ge-Planar-Technologie) |
||
Dr.-Ing. Hans Krug (TUD) | Pulssteller in Gleichstromantrieben von Nahverkehrsmitteln | ||
Ing. Manfred Techow (GWG) | Selengleichrichter - Fortschritte und Anwendung | ||
Dipl.-Ing. Horst Jüngling (HFO) | SF235 - neuer Si-UKW-Transistor | ||
Dipl.-Chem. Fritz Engelhardt (VEB Spurenmetalle Freiberg) |
Silizium als Grundwerkstoff | ||
Dipl.-Ing. Klaus Schmitt (FWE) | MOS-Transistoren SM103-104 im Gleichspannungsverstärker | ||
Dipl.-Phys. Klaus-Peter Steiger EHB/ZLA | Sowjetische Thyristoren der Typenreihe TD und TT | ||
Ing. B. Engel (GWS) | SY250 - Gleichrichterdiode | ||
Ing. Heinz Gottschalk (IfR) | Das System "Ursalog S" | ||
Dipl.-Ing. Peter Güttler (TUD) | Thermisch-elektrische Wechselwirkungen in Si-Planartransistoren | ||
Dipl.-Ing. Henry Güldner (TUD) | Thyristor-Schwingkreisumrichter zur Mittelfrequenz-Erwärmung | ||
Dipl.-Phys. Horst Zakrzewski (GWS) | Typensortiment Gleichrichterdioden bis 10A | ||
Dr. rer. nat. Dieter Garte (AMD) | Wege zu höheren Integrationsgraden | ||
Ing. Erwin Göttel (EHB/ZLA) Dipl.-Ing. Claus Herrmann Dipl.-Ing. Klaus-Peter Göhler |
Neue sowjetische Halbleiter-Bauelemente für die Schwachstromtechnik |
1975 (6.) |
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1977 (8.) |
HS-Ing. Peter Edelmann (HFO) | A223, IS zur weiteren Erhöhung des Gebrauchswertes von Fernsehgeräten | S 7-32 |
Ing. František Striček (Tesla) | Zwei-Norm-Fernsehschaltkreise | S 33-52 | |
Dipl.-Ing. Horst Jüngling (HFO) | Eigenschaften und Einsatzmöglichkeiten des Analog-IS A244D | S 53-72 | |
Dipl.-Ing. Werner Gränitz (Robotron) | Erste Ergebnisse der Erprobung sowjetischer Schaltkreise der Serie K155 | S 73-82 | |
Dipl.-Ing. Bernhard Gutsche (HFO) | Eigenschaften und Einsatzmöglichkeiten des Schaltkreises B222D | S 83-98 | |
Dr.-Ing. N. Schiller, Dipl.-Ing. N. Zidek (HFO) | Untersuchungen zur Feuchtebeständigkeit plastverkappter digitaler IS | S 99-110 | |
Dipl.-Ing. Bodo Hildebrandt (GWS) | Die Hochspannungstransistoren SU 161, SU 165, SD 168 | S 111-128 | |
Ing. Hans-Jürgen Welzel (FSGW), Dr. Dieter Spindler (TH Magdeburg) | Einsatz der Hochspannungstransistoren SU 161, SD 168 in SW-Fernsehempfängern ... | S 129-146 | |
Dipl.-Ing. Egon Schwerdt (GWS) | Die Gleichrichterdiode SY181 (SY 185) - eine neue schnelle Leistungsdiode | S 147-154 | |
Ing. Lothar Adam (GWG) | Freiflächengleichrichter mit Si-Einpreßdioden - Problemlösung mit hohem Gebrauchswert | S 147-154 |
1979 |
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1981 (9.) Band 1 |
Dipl.-Ing. Siegfried Güldner | D394 - IS für Schrittmotoransteuerung und seine Einsatzmöglichkeiten | S 1 - 8 |
Dipl.-Ing. Eberhard Kulla | Neue Operationsverstärker des HFO | S 9 - 21 | |
Dipl.-Ing. Detlef Dahms | Der LED-Ansteuer-IS A277 und seine Einsatzmöglichkeiten | S 22 - 32 | |
Dipl.-Ing. Hans-Heinrich Krüger | Der Schaltnetzteilansteuer-IS B260 und seine Einsatzmöglichkeiten | S 33 - 49 | |
Dipl.-Ing. Peter Näser | Der Treiber-IS D410 und seine Einsatzmöglichkeiten | S 50 - 62 | |
Dipl.Ing. Ulrich Roick | Neue Bauelemente für die Fernsehgeräteindustrie | S 63 - 84 | |
Ing. Helmut Jahn | Der Hall-Schaltkreis B461 und seine Anwendung | S 85 - 96 | |
Dr.-Ing. Bernd Kahl | Analog-Digital-Wandler C520D | S 97 - 108 | |
Dr. rer. nat. Bern-Georg Münzer (TUD) | Universelles Ausgabe-Interface für Mikrorechner K1520 mit D410D unter veränderten Einsatzbedingungen |
S 109 - 113 | |
Dipl.-Ing. Dieter Buttgereit | Vorstellung neuester HFO-IC's - ISA - für multivalenten Einsatz | S 114 - 124 | |
Dipl.-Ing. Wolfgang Schuster (INT) | Der Schaltnetzteilansteuer-IS B260 und seine Einsatzmöglichkeiten | S 125 - 138 |
Band 2 | Dr.-Ing. H. Greiner (Neuhaus) | Hybridgerechte Transistoren im SOT23-Gehäuse | S 139 - 148 |
Ing. Winfried Müller (WFB) | Neue optoelektronische Anzeigebauelemente | S 149 - 165 | |
Dipl.-Ing. P. Kowollik (Robotron) | Mikrorechnersysteme robotron K1520, K1600 und ihre Einsatzmöglichkeiten | S 166 - 174 | |
K. E. Ehwald (IPW der AdW Falkenhagen) | Technologische Probleme und bisherige Ergebnisse bei der
Versuchsfertigung rauscharmer Sperrschicht-Feldeffekttransistoren |
S 175 - 186 | |
Dipl.-Ing. Jaromir Jurecka (TESLA Roznov) | Integrierte Schaltkreise TESLA für Mikrocomputersysteme | S 187 - 205 | |
Dipl.-Phys. Kuhn (IfR der AdW) | Problemorientierte elektronische Bauelemente des Baugruppensystems URSALOG 4000 |
S 206 - 218 | |
Dipl.-Ing. Klaus Büchner (Neuhaus) | Aufbau, Eigenschaften und Anwendung des integrierten Schwellwert-IS A302 | S 219 - 226 | |
Dipl.-Ing. Bernd Seeger (FWE) | Die Uhrenschaltkreise des VEB Funkwerk Erfurt | S 227 - 243 | |
Dipl.-Ing. Wolfgang Wagner | Das Mikroprozessosystem U880 | S 244 - 263 |
1982 Band 1 |
G. Albrecht | Physik und Technologie mikrostrukturierter
Funktionselemente: Beiträge der AdW der DDR für die Mikroelektronik |
S 1 - 13 |
A. Möschwitzer | Elektronische Eigenschaften skalierter MOS-Transistoren für
VLSI-Schaltkreise - ein Überblick |
S 14 - 27 | |
E. Köhler | Die Entwicklung der MOS-Technik zu extremen Eigenschaften:
Gatterverzögerungszeiten unter hundert Pikosekunden |
S 28 - 47 | |
He. Erzgräber | Einige physikalische und technologische Probleme bei der
Realisierung skalierbarer dRAM-Zellen für VLSI-Speicher |
S 48 - 58 | |
W. Winkler, P. Schleg | Speicherzellen für hochintegrierte dynamische RAM's | S 59 - 70 | |
R. Pilz | Zum Problem der Ausbeuteerhöhung bei großen dynamischen RAM-Speichern
durch den Einsatz von Redundanz |
S 71 - 78 | |
B. Dietrich | Aspekte von Mischtechnologien (Kurzfassung) | S 79 - 80 | |
R. Winkler | Ergebnisse und Probleme einer SOI/SOAS-Technologie | S 81 - 94 | |
D. Thomas | Untersuchung zum Refresh-Verhalten von dynamischen RAM-Zellen | S 95 - 103 | |
H. Eberius | Möglichkeiten zur Erhöhung der Empfindlichkeit von Sensorschaltungen
für dynamische MOS-RAM |
S 104 - 110 | |
U. Hartmann | Modellvorstellungen und experimentelle Ergebnisse zur Kanalinjektion
in NMOS-Transistoren |
S 111 - 116 | |
V. Hähne, F. Sohackow | Programm zur Modellierung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiteranordnungen | S 116 - 128 | |
M. Auer, P. Bartsch | Die Weiterverarbeitung von Halbleiter-Chips und daraus abgeleitete
Aspekte für deren Entwurf und Herstellung |
S 129 - 134 | |
B.P. Derkatsch, B.M. Korsunski. | Über einige wichtige Probleme der Elektronenstrahl-Lithografie und Wege zu ihrer Lösung |
S 135 - 154 | |
J. Jablonski | Der Proximityeffekt in der Elektronenstrahllithografie | S 155 - 176 | |
B. Schleusener | Zur Löslichkeit positiver Elektronenresists | S 177 - 190 | |
J. Bauer | Justiermarken für die Elektronenstrahllithografie und Testung an dem ZRM 12 |
S 191 - 202 | |
K. Grantscharow, A, Balabanowa, S. Martinow, S.Georgiew | Zum Einfluß der Justiergenauigkeit der Wolframnadelkatode | S 203 - 208 | |
R. Wagner, M. Herrig, J. Bauer | Zu einigen Möglichkeiten der Projektionsfotolithografie bei der
Anwendung von partiell-kohärenter bzw. bi- oder polychromatischer Belichtung |
S 209 - 221 | |
H.J. Vollmer | Überblick zur Ionenstrahl-Lithografie | S 222 - 232 | |
L. Wigant, E. Richter, E, Jablonski, H.-J.Lorkowski | Zur Anwendung von Negativ-Elektronenstrahlkopierlacken in der Mikrolithographie |
S233 - 243 | |
K. Pfeiffer, B. Rapsch, H.-J. Lorkowski | Positiv-Elektronenstrahlkopierlacke für die Mikroelektronik | S 244 - 254 | |
S. Hähle, M. Minor | Untersuchungen zum Schleuderbeschichten von Elektronenlacken | S 255 - 270 | |
L. Weh | Das Oberflächenverhalten von Positivresists bei der Schichtbildung | S 271 - 275 | |
M. Roßberg, E. Linke, K. Pfeiffer | Massenspektrometrische Thermoanalyse zur Charakterisierung von E- und R-Resists |
S 276 - 284 | |
St. Friedrich, A. Großmann, L. Kuhnert | Zur Entwicklungskinetik eines Positivresists | S285 - 293 | |
R. Oeaterle, D. Maly, D. Pötzschke, M. Reetz | Erzeugung von µm- und sub-µm-Strukturen mit reaktivem
Ionenstrahlätzen unter Verwendung von Masken aus elektronenstrahlempfindlichen Resists |
S 294 - 304 | |
B. Wiedemann, G. Götz, E.B. Kley, J. Mittenbacher | Chemische Strukturätzung ionenimplantierter Schichten | S 305 - 315 | |
E. Sennewald, G. Götz, J. Mittenbacher, B. Wiedemann | Bestimmung der Implantationsprofile von Bor und Phosphor in SiO2- und Si3N4-Schichten mittels chemischer Atzung |
S 316 - 325 | |
R. Kirsch | Kontrolle der thermischen Behandlung von Elektronen-Resists
mittels Ellipsometrie |
S 326 - 332 | |
G. Fischer, M. Wäsche, I.v. Lampe, E. Linke, H.J. Lorkowski | Mikroskopische Auflichtmethode zur Untersuchung der Resistentwicklung | S 333 - 336 | |
D. Maly | Störschichten beim Ionenstrahlätzen | S 337 - 352 | |
G. Kosza, P. Valko, Th. Morgenstern, F. Richter | Wachstum epitaktischer Siliziumschichten mit definiertem Dotierungsproßil | S 353 - 360 | |
H. Kühne | Kinetik und Thermodynamik des Dotandeneinbaus bei der Abscheidung
von Epitaxiesilizium aus der Gasphase |
S 361 - 372 | |
F. Richter, A. Borchardt, E. Bugiel, M. Kittler, G. Weidner, H. Rausch | Zum Einfluß von Gasphasenätzung, Abscheidetemperatur und
NbG-Präparation auf die Realstruktur von Silizium-Homoepitaxieschichten |
S 373 - 379 | |
J. Schlote, D. Knoll | Axiale Inhomogenität des Temperaturprofils von Diffusionsanlagen
bei Chargiervorgängen |
S 380 - 389 | |
Th. Morgenstern, H. Kühne, F. Richter, R. Sperling | Modellmäßige Beschreibung des horizontalen CVD-Reaktors und ihre
Anwendung auf die Verbesserung der Chargenhomogenität |
S 390 - 397 | |
W. Scharff, K. Breuer, J.W. Erben, Ch. Weißmantel, H. Woitteneck, J. Matthäi, M. Voelskow, R. Klabes, A. Schmidt | Herstellung kristalliner Si-Schichten auf strukturierten amorphen SiO2-Substraten |
S 398 - 402 | |
M. Manzel, W. Ecke, E. Steinbeiß | Abscheidung von Isolatorschichten mittels
Plasmatron-Sputterquelle in Ar/SiH4/O2-Gasgemischen |
S 403 - 441 | |
H.-D. Hempel | Phosphor-in-situ-Dotierung und -Implantation von Polysiliziumschichten | S 442 - 453 | |
S. Blum | Technologische Probleme beim Einsatz von Trockenätzverfahren | S 454 - 462 | |
B. Müller, G. Nüske | Eigenschaften in situ-P-dotierter poly-Si-Schichten | S 463 - 472 | |
M. Procop | Herstellung und Eigenschaften von Silizidkontakten | S 473 - 485 | |
H. Berger, E. Nebauer | Ohmsche und Schottky-Kontakte am GaAs | S 486 - 491 |
Band 2 | D. Panknin, E. Wieser, H. Syhre, R. Klabes, R. Grötzschel | Implantationsprofile nach Lichtimpulsausheilung oder
Niedertemperaturausheilung |
S 492 - 498 |
J. Matthai, M. Voelskow, R. Klabes, S. Mutze | Eigenschaften implantierter Polysiliziumschichten nach
Lichtimpulsausheilung |
S 499 - 505 | |
K. Hahmuth, K.H. Heinig, R. Klabes | Kristallisation ungeordneter Halbleiterschichten durch Bestrahlung
mit Licht oder Elektronen |
S 506 - 517 | |
G. Nagygyörgy, K. Sári, G. Kósza, M. Welther | Optimization of Boron Doped SiO2 Layer Growth | S 518 - 526 | |
W. Andrä, R. Herzer, K. Herre | Laserausheilung von As-implantiertem Polysilicium und Auswirkung
auf die Eigenschaften von Polysilicium- und Gateoxiden |
S 527 - 535 | |
`W. Andrä jr. | Ladungsträgerprofile und Untersuchungen zum Leitfähigkeitsmechanismus
in Silizium nach Laserbestrahlung im Flüssigphasenregime |
S 536 - 542 | |
F. Thrum, G. Götz, H.-D. Geiler, H. Hein, K. Blüthner | Pd-Silicid-Reaktion durch Millisekunden-Laserbestrahlung | S 543 - 550 | |
S. Krauß, H. Lippmann | Zu physikalisch-technologischen Aspekten, die die Anwendung des
Prinzips der Skalierung von MOS-Transistoren begrenzen |
S 551 - 568 | |
W. Gawalek | Schichtsysteme für integrierte Mikrowellenschaltungen | S 569 - 574 | |
D. Knoll, J. Schlote | Wärmetransportprozesse bei der Messung des T-Profils in Diffusionsöfen | S 575 - 583 | |
B. Korneffel, D.P. Morawski, H.-J. Munte | Die Anwendung von speziellen Meßverfahren zur Kontrolle der
Technologie des Zyklus I bei der Produktion von optischen Sensoren |
S 584 - 597 | |
M. Pilatzek, K.-E. Ehwald, F. Januschewski | Messung an Gateringdioden und ihre Auswertung für die
Technologiekontrolle und zur Bestimmung physikalischer Parameter von CCD's mit vergrabenen Kanal (BCCDs) |
S 598 - 610 | |
J. Quick, Ha. Erzgräber | TVS-Messung zur Prozeßkontrolle des Zyklus I | S 611 - 625 | |
Ch. Quick, J. Quiek | Schichtdickenmessung von Schichten der nSGT mittels UV-VIS-Spektralphotometer SPECORD M40 | S 626 - 631 | |
K. Schmalz, P. Gaworzewski, V.V. Bolotov | Eigenschaften von sauertoffreichem Silizium infolge Wärmebehandlung bei 600°C | S 632 - 641 | |
J. Reichel | Widerstandsänderungen in p-Silizium durch schnelles Abkühlen nach Temperungen | S 642 - 646 | |
J. Doerschel, B. Lux, G. Rau | Züchtung und Charakterisierung von Siliziumformkristallen | S 647 - 652 | |
D. Tänzer, A. Casajus, F.-G. Kirscht | Formverhalten von großen Silizium-Scheiben bei Hochtemperaturprozessen | S 653 - 664 | |
G. Morgenstern, G. Weidner | TEM-Untersuchungen zum Bildungsmechanismus von Oxydationsstapelfehlern
an schwachen mechanischen Oberflächenstörungen |
S 665 - 671 | |
H. Flietner | Oberflächenuntersuchungen zur Technologie-Analyse und -Optimierung | S 672 - 680 | |
H. Krause | Elektrische Volumeneigenschaften thermischer SiO2-Schichten | S 681 - 688 | |
W. Röpke | Untersuchungen zum Isolations- und Ladungsverhalten von
MOS-Proben mit sehr dünnen thermischen SiO2-Schichten |
S 689 - 696 | |
D. Günther, M. Schmidt, F. Sprenger | Zum Aufbau der Oxidladung in MIS-Strukturen nach Generation freier Ladungsträger |
S 697 - 710 | |
G. Weidner, G. Ritter | Defekt-Bildungsmechanismen während der Phosphordiffusion
bei Dotierungskonzentrationen nahe der Löslichkeitsgrenze im Silizium |
S 711 - 719 | |
P. Gaworzewski, F.-G. Kirscht, K. Schmalz | Zum Zusammenhang von Sauerstoff- und Defektverteilungen in
Czoohralaki-Si-Scheiben nach Wärmebehandlungen |
S 720 - 730 | |
F. Kirscht, K. Schmalz, P. Gaworzewski, I. Babanskaja, R. Bertoldi | Zur Bildung von Volumendefekten in Cz-Siliciumscheiben
infolge mehrstufiger Wärmebehandlungen |
S 731 - 741 | |
R. Gleichmann | Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Wirksamkeit
der "Intrinsic" Getterung |
S 742 - 745 | |
B. Hahn | Der E1nfluß von thermischer Vorbehandlung und definiertem
Sauerstoffgehalt auf das Einsatzverhalten von Cz-Silizium in der Technologie NSGT |
S 746 - 749 | |
D. Knoll, A. Fischer | Umverteilung von Schwermetallverunreinigungen im Silizium durch Phosphordiffusion |
S 750 - 761 | |
J. Dziesiaty, K.-R. Sprung, K. Ellmer | Einfluß einer Argon-Rückseitenimplantation auf die
Minoritätslebensdauer von Si-Substratscheiben |
S 762 - 769 | |
W. Seifert, M. Kittler, E. Bugiel, G. Buchheim | Untersuchungen zum Einfluß von Verunreinigungsatmosphären auf
die elektrische Aktivität von Defekten und zu deren Einfluß auf BE-Parameter |
S 770 - 777 | |
M. Mai, F. Kirscht, R. Bertoldi, E. Bugiel | Defektausbildung in vorbehandelten Si-Scheiben nach
Prozeßdurchlauß und Auswirkungen auf ausgewählte Bauelemente-Parameter |
S 778 - 783 | |
W. Nitzsche | Optimierung des Einsatzverhaltens von Si-Substratscheiben unter
Ausnutzung des Sauerstoffgehaltes |
S 784 - 787 | |
H.-F. Hadamovsky | Probleme der Submikrometerdiagnostik | S 788 - 794 | |
E. Bugiel, A. Casajus, M. Kittler, G. Weidner | Komplexe Charakterisierung von Kristalldefekten im Silizium
mittels Röntgentopographie-, EBIC- und TEM-Untersuchungen |
S 795 - 799 | |
P. Zaumseil, U. Winter | Ein röntgenographisches Verfahren zur Bestimmung von Dotierungsprofilen | S 800 - 805 | |
J. Heydenreich | Moderne Elektronenstrahl-Diagnostikverfahren | S 806 - 822 | |
O. Breitenstein | Kapazitätsspektroskopie tiefer Störstellen im Rasterelektronenmikroskop | S 823 - 830 | |
M. Kittler, W. Seifert | Zur Charakterisierung von Halbleiter-Silizium mit der EBIC-Methode | S 831 - 841 | |
H. Blumtritt, L. Pasemann | Ein Verfahren zur Diffusionslängenbestimmung mit der EBIC-Technik | S 842 - 850 | |
E. Koch, F. Huth, W. Joachimi, W. Hergert | Rasterelektronenmikroskopischa (EBIC)- und
mikroanalytische Untersuchung von Metallisierungsschichten auf Si |
S 851 - 855 | |
Chr. Wenzel | Einsatz der Elektronen-Energieverlust-Spektrometrie (ELS) für
Werkstofforschung und Analytik |
S 856 - 861 | |
H. Koch, K. Freyer | Zur Anwendung nuklearer Analysenverfahren in der Halbleiterindustrie | S 862 - 870 | |
W. Rudolph, R. Grötzschel | Die Untersuchung von Schichtsystemen mittels RBS | S 871 - 878 | |
P. Zaumseil, U. Winter, C. Becker, R. Imamov, M. Kowalchuk | Röntgen-Dreikristalldiffraktometrie zur Untersuchung von
Defekten in dünnen Oberflächenschichten und im Kristallvolumen |
S 879 - 884 | |
K.E. Ehwald | Zum Ausräumverhalten kleiner Signalladungen bei verschiedenen
Typen von CCD-Sensorelementen |
S 885 - 896 | |
C. Becker, A. Borchardt | Diagnostik an Teststrukturen des IPW | S 897 - |
1983 (10.)Band 1 |
Dipl.-Ing. Klaus Riediger (AEB) | Arbeitsweise und volkswirtschaftliche Effekte der Beratungs- und Informationsstellen Mikroelektronik des VEB AEB |
S 1 - 10 |
Dr. J. Fraikin | Eigenschaften, Anwendungsmöglichkeiten und ökonomische Effekte
beim Einsatz des Arithmetik-IS U832 |
S 11 - 27 | |
Dr.-Ing. Jens Knobloch Dr.-Ing. Stefan Günter Dipl.-Ing. Wolfgang Wahl |
U224 und U214 - 4096 Bit statischer Speicher-IS | S 28 - 35 | |
Dr.-Ing. Eckhard Fehse | LS-TTL - Eine leistungsarme Schottky-TTL Logik Serie für allgemeine Anwendungen |
S 36 - 54 | |
Dipl.-Ing. Hennig Zinke | Integrierte Schottky-TTL Interface-Schaltkreise | S 55 - 91 | |
Dipl.-Ing. Gerhard Reichel | Übersicht über die CMOS-Digitalbaureihe V4000D und die volkswirtschaftlichen Vorteile bei ihrem Einsatz |
S 92 - 108 | |
Dipl.-Ing. Rainer Zimmermann | Thermische Probleme bei der Anwendung integrierter Schaltkreise | S 109 - 119 | |
Dipl.-Ing. Siegfried Güldner | D345-348D - eine neue Generation leistungsarmer BCD zu
7-Segmentdecoder und die ökonomischen Effekte beim Einsatz anstelle D146/147D |
S 120 - 131 | |
Dipl.-Phys. Andreas Junghans (FWE) | Eigenschaften, Aufbau und Einsatzmöglichkeiten des Zähler-IS U125D | S 132 - 142 | |
Dipl.-Ing. Karl-Heinz Kresse | Der A2030H/V - ein NF-Leistungsverstärker mit universellen Einsatzmöglichkeiten |
S 143 - 169 | |
Dipl.-Ing. Detlef Dahms | BIFET-Operationsverstärker der Reihe B080 - B084 | S 170 - 187 | |
Ing. Dieter Jung | Transistorarrays B315, B325, B360, B380 - eine Alternative zum wirtschaftlichen Ersatz diskreter Transitoren |
S 188 - 205 |
Band 2 | Dipl.-Ing. Ulrich Roick | B555D - ein kostengünstiger Zeitgeberschaltkreis für einen weiten Anwendungsbereich |
S 206 - 224 |
Dipl.-Ing. Peter Häser | E412D - ein störsicherer Schaltkreis für industrielle Steuerungen | S 225 - 243 | |
Dipl.-Ing. Franticek Hruby (TESLA Roznov) | Analoge Komperatoren TESLA MAC111, MAC160 | S 244 - 258 | |
- | Neue elektronische Bauelemente aus der UdSSR | S 259 - 272 | |
F. Wagner | Hybridtechnik - Bemerkungen zur Aufgabenstellung und Leistungsfähigkeit dieser Mikroelektronik-Technologie | S 273 - 284 | |
- | Ökonomische und schaltungstechnische Effekte beim Einsatz des
Multimeter-IS U126D |
S 285 - 296 | |
- | Materialökonomische Effekte beim Einsatz des U809M | S 297 - 304 | |
Dipl.-Ing. Roland Fischer | B390D - ein integrierter Schaltkreis zur Drehzahlregelung
kommutatorloser Kleinstmotoren mit modernster Konzeption für hochwertige Laufwerke |
S 305 - 317 | |
Dipl.-Ing. C. Holfert (Hartha) Dr.-Ing. M. Wilhelm (Hartha) Ing. D. Zahn (Hartha) |
Elektronikmotor mit IS B390 - ein Antrieb für Kassettenlaufwerke mit hohem Gebrauchswert |
S 318 - 333 | |
Dipl.-Ing. Peter Grashoff | Die Funktion der Fernsteuerschaltkreise U806D und U807D und ihre Anwendung | S 334 - 353 | |
Dipl.-Ing. Bernd Seeger | Die Funktion der Uhrenschaltkreise U130X, U131G, U132X und ihr Einsatz in der Konsumgüterindustrie |
S 354 - 375 | |
Dipl.-Phys. Hartwin Obernik Dipl.-Phys. Frank Gabriel |
Elektroluminiszenz-Displays - ein neues Festkörperbauelement für die Anzeigetechnik |
S 376 - 388 |
Band 3 | Dipl.-Phys. Karl-Heinz Arnold | Ergebnisse und Erfahrungen beim Aufbau des zentralen Nachweisspeichers angewandte Mikroelektronik |
S 389 - 397 |
Dipl.-Ing. Hans-Jürgen Wägner | B304D, B305D, B306D - eine neue Generation von Schaltkreisen für induktive Initiatoren und allgemeinen Einsatz |
S 398 - 417 | |
Dipl.-Ing. Herbert Sowa (MGB) | Anwendungsmöglichkeiten der IS B304D, B305D, B306D | S 418 - 438 | |
G. Neugebauer | Stand der Einführung des HFO-ISA-Systems | S 439 - 447 | |
Prof. Dr.-Ing. M. Roth (TU Ilmenau) Dipl.-Ing. W. Fengler (TU Ilmenau) |
Mikrodat 80 - ein modernes Konzept zur Prozessmesswert-Verarbeitung | S 448 - 454 | |
Ing. Lutz Erhardt (GWS) | Energie sparen mit Leistungshalbleitern | S 455 - 461 | |
Dr.-Ing. Bodo Hildebrandt (GWS) | Anwendung der Leistungsschalttransitoren SU167/169 | S 462 - 477 |
1984 | (verschiedene Autoren) | III. Symposium "Physikalische Grundlagen zu Bauelementetechnologien der ME" | |
(verschiedene Autoren) | III. Symposium "Physikalische Grundlagen zu Bauelementetechnologien
der ME" - Programm |
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(verschiedene Autoren) | III. Symposium "Physikalische Grundlagen zu Bauelementetechnologien
der ME" - Programmänderungen |
1985 (11.)Band 1 |
Dipl.-Ing. Thierfelder (ZFTM) | U8047 - ein Einchip-Mikrorechner mit 4 Bit Verarbeitungsbreite | S 1 - 12 |
Dr. rer. nat. Thomas de Paly (ZFTM) | U2161 - ein 64 kBit dynamischer Speicher | S 13 - 23 | |
Dipl.-Ing. G. Dugnus (MME) | Neue Festwertspeicher-Bauelemente aus dem MME | S 24 - 40 | |
Dr.-Ing. Eckhard Fehse Dipl.-Ing. Eberhard Seeling |
Erweiterung der leistungsarmen Logikreihe in Schottky-TTL-Technik | S 41 - 65 | |
Dipl.-Ing. Henning Zinke | B511N / B589N - integrierte Schaltungen für kostengünstige Temperaturerfassung |
S 66 - 80 | |
Dr.-Ing. B. Kahl | C500-Reihe - ein Schaltkreissatz für Digitalvoltmeter mit 4 1/2-Digit Anzeige |
S 81 - 100 | |
Dr.-Ing. J. Pfotenhauer | Stand und perspektivische Entwicklung von Sensoren im Bereich Elektrotechnik/Elektronik |
S 101 - 110 | |
W. W. Batschurin | HF-MIS-Leistungstransistoren KP901, KP902, KP904, KP905, KP907, KP908 | S 111 - 131 | |
W. A. Schachnow | Mikroprozessoren und mikroprozessorgestützte Mittel der Rechentechnik | S 132 - 162 | |
Ing. Helmut Jahn | A2000V / A2005V - Doppel-NF-Leistungsverstärker für den ökonomischen Einsatz in Stereo-Auto-Kofferempfängern |
S 163 - 180 | |
Dipl.-Ing. Ulrich Roick | A3501D, A3510D, A3520D - IS für die Farbaufbereitung von PAL- und SECAM-Norm |
S 181 - 200 |
1985 - Band 2 |
Dipl.-Ing. Horst Jüngling | A4100D - AM/FM-ZF-Schaltkreis mit hohem Integrationsgrad für Koffer- und Heimgeräte |
S 201 - 210 |
HS-Ing. Peter Edelmann | A1818D - Aufnahme-Wiedergabeverstärker für Kassetten- und Radiokassettengeräte |
S 211 - 229 | |
Dipl.-Phys. Monika Arnold | Der Informationsdienst Mikroelektronik - wesentlicher Faktor
zur Beschleunigung der Entwicklung und Anwendung mikroelektronischer Bauelemente |
S 230 - 242 | |
Dipl.-Ing. Klaus Riediger | Ergebnisse der Beratungs- und Informationsstellen
Mikroelektronik des VEB Applikationszentrum Elektronik Berlin (AEB) |
S 243 - 251 | |
Prof. Dr. sc. G. Heymann (HUB) Dipl.-Ing. J. Denecke (WFB) |
Neue optoelektronische Infrarot-Bauelemente | S 252 - 259 | |
Dipl.-Ing. Hartmut Berndt (ZFTM) | Gefährdung elektronischer Bauelemente durch elektrostatische Entladung (ESD) | S 260 - 270 | |
Dipl.-Ing. Georg Bendlin | Der Taschenrechnerschaltkreis U825G als Echtzeituhr im K1520-System | S 271 - 282 | |
Dipl.-Ing. K.-D. Kirves | U826G als Arithmetikprozessor im K1520 | S 283 - 296 | |
Dipl.-Ing. H. Kieser | U8000 - ein leistungsfähiges 16Bit-Mikroprozessorsystem | S 297 - 308 | |
Dipl.-Ing. Mario Bankel | Übersicht über die 8Bit-Einchipmikrorechner des VEB Mikroelektronik "Karl Marx" Erfurt (MME) |
S 309 - 326 | |
Dipl.-Ing. Detlef Dahms | Leistungsarme Operationsverstärker der Reihe B060 ... B066D in BiFET-Technologie |
S 327 - 340 | |
Dr.-Ing. Jürgen Dietrich Dr.-Ing. Bernd Kahl |
10- und 8Bit-AD-Wandlerschaltkreise C571D und C570D | S 341 - 348 | |
Dipl.-Ing. Horst Zinke HS-Ing. Manfred Kulesch |
8-, 10- 12Bit-DA-Wandlerschaltkreise C565D, C5650D, C5658D | S 349 - 357 | |
Dipl.-Ing. Werner Dennstedt | U807D als Tastaturinterface für den Heimcomputer HC900, bzw. für Mikrorechnersysteme auf U880-Basis |
S 358 - 369 | |
Dipl.-Ing. Karrasch | E310D - Intergrierter Blinkgeberschaltkreis für den Einsatz in Personen- und Nutzfahrzeugen |
S 370 - 391 |
1985 - Band 3 |
Dipl.-Ing. Wilfred Löffler (AEB) | Neue diskrete Halbleiter-Bauelemente aus dem RGW | S 392 - 399 |
H. W. Mittenentzwei | Konstruktion und Eigenschaften hochsperrender Silizium-Leistungsschalttransitoren | S 400 - 419 | |
H. Conrad; H. Güldner K. Lehnert; U. Nicolai |
Erfahrungen und Probleme beim Einsatz moderner Leistungs-Halbleiterbauelemente | S 420 - 451 | |
M. Kronberg W. Schreiter (GWS) |
Anwendung von Leistungsschalttransistoren | S 452 - 470 | |
Dipl.-Phys. Peter Brüseke Dr. Lothar Elstner (ZI EPh) |
Schottky-Dioden-Parameter und applikative Aspekte - SY525, SY526 | S 471 - 483 | |
Dipl.-Ing. Kurt Biebler (AEB) | Sensoren und Sensortechnik auf Basis der Halbleitertechnik des VEB KME | S 384 - 391 | |
Dr. Dieter Bühling (KKWH) | Keramische Sensoren | S 492 - 511 | |
Dr.-Ing. R. Mäder Dipl.-Phys. P. Reinhardt (EBT) |
Sensoren auf Basis Folien | S 512 - 521 | |
Manfred Schulz (GWS) | Übersicht zum Bauelemente-Sortiment der Leistungselektronik | S 522 - 531 |
1987 (12.)Band 1 |
Dipl.-Ing. Gerd Krybus (IfAM - AEB) | Ingenieurbetriebe für die Anwendung der Mikroelektronik (IfAM) | S 1 - 11 |
Dr.-Ing. Ecke/Gobelny (ZFTM) | Testmethodik von Gate-Array-Schaltkreisen | S 12 - 16 | |
Dipl.-Ing. Frank Reimann (IfAM KMSt) | Rationelle Entwicklung bei objektkonkreter Software beim Einsatz der PKS100/200 | S 17 - 30 | |
Dr.-Ing. H. Greiner (MSN) | Allgemeine Entwicklungsrichtungen bei Transistoren | S 31 - 44 | |
Dipl.-Ing. Höpfner (IfAM FfO) | Mikroelektronische Steuerung für biotechnologische Prozesse bei der Molkeverhefung |
S 45 - 50 | |
Dipl.-Ing. Wolfgang Riegel (MLS) | RBSOA - Der sichere Arbeitsbereich beim Ausschalten
von Leistungsschalttransistoren |
S 51 - 57 | |
Dipl.-Ing. Hofrichter (ZMD) | Speicher IC U6516D | S 58 - 65 | |
Dipl.-Ing. Eberhard Böhl (ZMD) | Der Floppy-Disk-Controller U8272D | S 66 - 81 | |
Dipl.-Ing. Egon Schröpfer (MME) | U714P - ein universeller LCD-Matrizensteuerschaltkreis | S 82 - 97 |
1987 - Band 2 |
Dipl.-Ing. Peter Grasshoff | Ein digitalen Absimm- und Anzeigesystem für Rundfunkempfänger mit verfügbaren Bauelementen |
S 98 - 112 |
Dipl.-Ing. Zielosko; Ing. Jansen Dr.-Ing. Karolewski (MME) |
Zur Entwicklung der Zuverlässigkeitsarbeit an unipolaren Schaltkreisen | S 113 - 114 | |
- (KKWH) | Analoge Hybridschaltkreise für Mikrorechner-Peripherie | S 115 - 131 | |
Dipl.-Ing. Hermann (AEB) | U2148D - ein statischer Speicher mit schnellen Zugriffszeiten | S 132 - 142 | |
Dipl.-Ing. Mario Bankel (MME) | Der Grafik-Display-Controller U82720D - Technische Daten und Applikation | S 143 - 155 | |
Dipl.-Ing. Gerhard Dugnus (MME) Dipl.-Ing. Siegmar Müller |
ROM-Schaltkreis U2365D45 BM200 ergänzst den UB8830 | S 156 - 176 | |
Dipl.-Ing. Klaus-Dieter Möller (MME) | Der PLL-Synthesizerschaltkreis U1056D und seine Anwendung | S 177 - 191 |
1987 - Band 3 |
Dipl.-Ing. Klaus Storch (KWH) Dipl.-Ing Roland Fischer (HFO) |
Integrierte Präzisionsstromquellen B724X, B7240X in
hochauflösenden hybriden DA-Wandlern |
S 192 - 198 |
Dipl.-Ing. Detlef Dahms | B4206, B4207, B4211 - Familie integrierter Schaltkreise
zur Phasenanschnittsteuerung von Triac's und Thyristoren |
S 199 - 220 | |
Dipl.-Ing. E. Seeling Dr.-Ing. E. Fehse |
Weitere Schaltkreise der leistungsarmen Logikreihe in Schottky-TTL-Technik | S 221 - 247 | |
Dipl.-Ing. Henning Zinke | C560D - mikroprozessorkompatibler 8Bit DA-Wandler | S 248 - 259 | |
Dipl.-Ing. Gerhard Neugebauer | Durchgängiges Entwurfsystem für ISA-Kundenschaltkreise | S 260 - 267 | |
Dipl.-Ing. Klaus Christen | C574 - leistungsfähiger 12Bit A/D-Wandler | S 268 - 277 | |
Dipl.-Ing. E. Kulla | B4002D - ein Ansteuerschaltkreis für Leistungsschalttransistoren | S 278 - 292 |
1987 - Band 4 |
Dipl.-Phys. Günter Gittner | CMOS Analog-Digitalwandler C7136D | S 293 - 306 |
Dipl.-Ing. Eberhard Seeling | Kurzschlußfester Treiberschaltkreis E435E | S 307 - 322 | |
HS-Ing. Peter Edelmann | A1524D - kostengünstige, hochintegrierte NF-Stereo-Einstellkombination | S 323 - 338 | |
M. Schulz (MLS) | Zur Entwicklung der Leistungselektronik in der DDR | S 339 - 346 | |
Dipl.-Ing. Thomas Birke (FWB) | Der ISA-Schaltkreis K630D - Eigenschaften und Anwendung als ZF-Verstärker | S 347 - 357 | |
M. Dinter (ZFTN) | Steuerschaltkreis KD310 für Teilnehmereinrichtungen | S 358 - 369 | |
Dr. Volker Tüngler (ZFTN) | Der Fehlerortungsschaltkreis KD320 für PCM-Taktaufbau Prüfung und Eigenschaften |
S 370 - 377 | |
Dr. Volker Tüngler (ZFTN) Andreas Buchelt |
Erfahrungen aus der gemeinsamen Entwicklung nachrichtenspezifischer Schaltkreise und zu ziehende Schlußfolgerungen für die weitere Zusammenarbeit | S 378 - 386 |
1987 - Band 5 |
Dr.-Ing. Bodo Hildebrandt (MLS) | Schaltverhalten der
Silizium-npn-Darlington-Leistungsschaltransistoren der Reihe SU510 bei induktiver Last |
S 387 - 397 |
Dipl.-Ing. Horst Jüngling | ISA-Schaltkreis AK317 - Eigenschaften | S 398 - 416 | |
Dipl.-Phys. Gerd Daute (ZIM) | Ergebnisse des Entwurfs des Gate-Array U5201PC-501 - Auswertelogik für inkrementale Wegmeßsysteme (MELS1) |
S 417 - 431 | |
- TESLA | Digitale integrierte Schaltkreise ALS-TTL | S 432 - 446 | |
Dipl.-Ing. Ladislav Jakub (TESLA Roznov) | Neue bipolare PROM-Speicher | S 447 - 465 |
1989 (12.)Band 1 |
Jens Knobloch (ZMD) | Der Megabitspeicher U61000 | S 3 - 8 |
G. Erbert, W. Hörnlein, A. Klehr (ZI-OS der AdW) |
Charaktrerisierung von Halbleiterlasern für die Lichtleiter-Nachrichtenübertagung |
S 9 - 20 | |
Christoph Meinel (MSN) | Mikrowellentransistoren aus dem VEB Mikroelektronik "Anna Seghers" Neuhaus | S 21 - 35 | |
G. Erbert, J. Frahm, A. Bärwolff (ZI-OS der AdW) |
Laserdioden und Lasermodule für die Lichtleiter-Nachrichtenübertagung (LLNO) |
S 36 - 49 | |
H. Greiner, M. Rosenbusch (MSN) | GaAs-Transistoren der Typenreihe VFE15 | S 50 - 69 | |
Gerhard Kohl (FWB-K) | Sende- und Empfangsbauelemente in den Systemen der LWL-Nachrichtenübertagung | S 70 - 72 | |
Henry Hörnicke (ZeG Mittweida) | SMD-Technik im wissenschaftlichen Gerätebau | S 73 - 76 | |
B. Röding (EAW-ZFT) | Hybrid-integrierte Schaltungen für
Lichtwellenleiter- Kurzstreckenübertragung (LLKÜ) Sender OS8,5M; Empfänger OE8,5M |
S 77 - 86 | |
Dr. Heinz Döring (IHS Mittweida) | Einsatz des A/D-Wandlers C574 für Messungen mit einer Auflösung von mehr als 15Bit |
S 87 - 95 | |
Bernd Kahl | U736D, U739D, U670C - Weiterentwicklungen auf dem Gebiet der Analog-Digital-Wandler |
S 96 - 120 |
1989 - Band 2 |
Uwe Beier | Gleichspannungswandler mit hohem Wirkungsgrad und großem
Ausgangsstrom (B2960) und zur Betriebspannungsversorgung von Kleinleistungsstufen (U7660) |
S 121 - 149 |
Hans-Peter Karrasch | A1670V - eine betriebssichere Vertikalablenkschaltung für Farbfernsehgeräte | S 150 - 165 | |
Helmut Jahn | Der B466GA - ein Hall-IS für die KFZ-Technik | S 166 - 192 | |
Eckhard Fehse | U4541DG - Timer-IS für Zeitrelais und allgemeinen industriellen Einsatz | S 193 - 211 |
1989 - Band 3 |
Eberhard Seeling | 8Bit-Treiberschaltkreis D4803DC | S 212 - 236 |
H. H. Krüger, D. Drechsler, F. Richter | B2600 - moderner Sekundär-Schaltkreis für industrielle Schaltnetzteile | S 237 - 251 | |
Dipl.-Ing T. Stautmeister Dr. rer. nat. B. Lux (ZFT Robotron) |
Gatearray-Einsatz im intelligenten CCD-Zeilensensor für
die schnelle Binärbildauswertung (U5201-FC901... 903) |
S 252 - 260 | |
G. Fleischmann, G. Klock, F. Krumbein, T. Spaete (MME), V. Pfeiffer (WMF) |
U840PC - Spezialprozessor für binäre speicherprogrammierbare Steuerungen | S 261 - 273 | |
Jochen Albrecht (ZI-EPh der AdW) | Galliumarsenid-Bauelemente | S 274 - 280 | |
U. Plauschin, K.-E. Ehwald, K. Engel, P. Schley (IHP der AdW, ZWG) |
L115C und L173C - Spezielle CCD-Sensoren für die optische Spektroskopie | S 280 - 290 |
1989 - Band 4 |
Frantisek Hruby (TESLA Roznov) | Präzision-Intrumentenverstärker MAC524C, MAC626C | S 291 - 317 |
Frantisek Hruby (TESLA Roznov) | Präzisions-Spannungsreferenz MAC199 | S 318 - 335 | |
Detlef Dahms | B411DD - Präzisions-Operationsverstärker B4204DE / B4205DE - IS für Nullspannungsschalter |
S 336 - 353 | |
W. R. Sieron (ZMD) | VLSI - Entwurfssystem für U1600 | S 354 - 368 | |
Hans-Friedrich Hadamovsky (ZI-EPh der AdW) | Schaltleistungs-Bauelemente - Stand und Perspektiven | S 369 - 381 | |
Michael Ritter (MME) | 8Bit-CMOS-Mikroprozessorsystem U84C00 | S 382 - 389 |
1989 - Band 5 |
Dipl.-Ing K. Schröter, Dipl.-Ing G. Weißbach, Dipl.-Ing. B. Pritzke (FZ MWB) |
Anwenderspezifische Schaltkreise für die Steuerung SPS7010 | S 390 - 399 |
Klaus-Dieter Möller (MME) | Der 64k-EPROM U2764CC - Technische Beschreibung und Programmiertechniken | S 400 - 416 | |
Frank Meinecke (MME) | Fehlererkennungs- und Korrekturschaltkreis U80608 | S 417 - 427 | |
Wilfried Schmidt (MME) | DRAM-Controllerm U80610 | S 428 - 438 | |
Volkmar Heilbock (MME) | U80606DC - Der Bus-Controller für den schnellen 16Bit-Miroprozessor U80601 | S 439 - 452 | |
Marko Schmidt (MME) | Periphere Schaltkreise CIO und SCC | S 453 - 478 | |
Bodo Hildebrandt (MLS) | Ausgewählte Meßergebnisse zur Anwendung der Silizium
npn- Darlington-Leistungsschalttransitoren SU520, SU519, SU518 |
S 479 - 485 |
1989 - Band 6 |
Wilfried Hofrichter (ZMD) | 64kBit statischer CMOS-Speicher U6264D | S 486 - 501 |
Thomas Wolf (ZMD) | 4kBit statischer CMOS-Speicher U6548 | S 502 - 515 | |
Gerhard Reichel (MME) | Die schnelle CMOS-Logik-Baureihe U74HCT000DK des VEB Mikroelektronik "Karl-Marx" Erfurt |
S 516 - 544 | |
H. W. Stange, H. Klein (ZFT KNE) | Einsatzerfahrungen mit aufsetzbaren Bauelementen (SMD) | S 545 - 557 | |
Siegmund Kobilke (WFB) | Lichtwellenleiter-Kurzstreckenübertragung | S 558 - 576 |
1989 - Band 7 |
Michael Gieseler, Manfred Sorst (KCZ) | Gate-Array-Schaltkreissystem U5300 | S 577 - 598 |
Christian Rößler (WFB) | MQE10 - Eine dreistellige Lichtemitteranzeige mit AD-Wandler-Funktion | S 599 - 607 | |
Werner Müller (Robotron-MKD) | Ergebnisse und Vorteile eines engen Zusammenwirkens des VEB Kombinat Robotron mit der Bauelementeindustrie beim Entwurf und der Entwicklung neuer kundenspezifischer Schaltkreise (ASIC-SKE für den BIC) | S 608 - 615 | |
Klaus Illgen (WFB) | TV-Bildaufnahmesensoren mit Farbfilter | S 616 - 619 | |
E. Ahrenz, D. Hammer, U. Kucharzyk, H. Pietsch (IfIR der AdW) |
Einsatz moderner Mikroprozessoren in Multiprozessorsystemen mit konfigurierbarer Leistung und Zuverlässigkeit |
S 620 - 635 | |